使用4200A-SCS參數分析儀（參數測試儀）加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業內性能領先電學特性參數分析儀，提供同步電流電壓曲線測試(I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試(C-V曲線測試)和超快脈沖I-V曲線測量。

　　參數查看，快速清晰。

　　推進大膽發現從未如此容易。4200A-SCS參數分析儀從設置到運行檢定測試的時間減少高達50％，從而實現無與倫比的測量和分析能力。此外，嵌入式測量專業知識提供無與倫比的測試指導，并讓您對終結果充滿信息。

　　特點

　　用于DC IV、CV和脈沖IV測量類型的高級測量硬件

　　立即使用Clarius軟件中所含的數百種用戶可修改應用程序測試開始測試

　　自動實時參數提取、數據繪圖、分析函數

　　準確的C-V表征

　　使用吉時利新的電容-電壓單元(CVU)4215-CVU測量一位數飛法。通過將1 V AC電源集成到吉時利行業領先的CVU架構中，4215-CVU可在1 kHz至10 MHz的頻率下進行低噪聲電容測量。

　　特點

　　同類產品中一款能夠驅動1 V AC電源電壓的CV表

　　1 kHz頻率，分辨率從1 kHz到10 MHz

　　測量電容、電導和導納

　　使用4200A-CVIV多路開關多可測量四個通道

　　測量、切換、重復。

　　4200A-CVIV多通道切換模塊自動在I-V和C-V測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。與競爭產品不同，四通道4200A-CVIV顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。

　　特點

　　無需重新布線即可將C-V測量移動到任何設備終端

　　用戶可配置低電流功能

　　個性化輸出通道名稱

　　查看實時測試狀態

　　穩定的低電流測量，適用于I-V檢定

　　使用4201-SMU和4211-SMU模塊，您可以在高電容系統中實現穩定的低電流測量。4200A-SCS有四種型號的源測量單位(SMU)可供選擇，可通過定制滿足您所有的I-V測量需求。通過提供現場可安裝單元和可選的預放大器模塊，Keithley可確保您獲得準確的低電流測量，而停機時間很少甚至沒有。

　　特點

　　不必將儀器送回工廠即可增加SMU

　　進行飛安測量

　　多達9個SMU通道

　　針對長電纜或大卡盤進行了優化

　　帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案

　　4200A-SCS參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336低溫控制器。

　　特點

　　“點擊”測試定序

　　“手動”探測器模式測試探測器功能

　　假探測器模式無需移除命令即可實現調試

　　降低成本并保護您的投資

　　吉時利保障計劃以按需服務事件的一小部分成本提供快速、高質量的服務。只需點擊一下或撥打一個電話即可獲得維修服務，在此過程中，無需報價或填寫采購單，也不會有審批延誤。