簡要介紹

      ZCLK-001A聲學激光分析儀可以測試電聲產品的性能參數包括頻響曲線、阻抗曲線、諧波失真、互調失真、異音測試等。
其中異音測試是傳統測試系統的弱點。所謂異音（rub and buzz ）是指用掃頻信號測試揚聲器時，產生惱人的雜音，是由系統非線性引起的。異音的產生大多是由揚聲器的制造缺陷引起的，例如松散的振膜，松散的線圈，非中心振膜，線圈的摩擦，漏氣或其他缺陷。這些缺陷造成短脈沖具有突然變化的瞬時能量，從而產生令人耳不安的雜音。經過訓練的聽音者可以有效地分辨出異音，但需要耗費大量的人力物力，且聽力疲勞會降低測試的準確性，因此不適合用于生產線上的產品測試。

功能介紹

一∶功能測試小信號情況下的TS參數測試

主要關鍵揚聲器參數（Rms、Kms、BL、Re、Res、FO、Mms、Cms、Qms、Qes、Qts）等電和機械特性參數

二∶ DIS 功能測試︰利用激光振動狀態進行分析和監控

可實現單點和多點的揚聲器振膜位置監控。分析產品在不同的輸入功率下和音膜振動位移的關系、振膜搖擺分割振動狀態。測試揚聲器音膜的振動對稱，以及多點位置下的位移一致性，分析產品分割振動模態。

三：Acoustic 功能:MIC對揚聲器聲學性能以及純音等參數進行測試

包含（FR、SPL、THDHD、HOHD、Rub&buzz、BBN 、IMP、Puresound ）優點能夠符合一般聲學廠商的聲學性能測試要求，簡潔方便既可以作為研發分析用，也可以作為產線批量檢測用。本設備集成目前主流聲學測試應用軟件，并推陳出新，并根據聲學業內20年的應用經驗添加真正能夠代替人耳純音的測試功能。配合合適的硬件能夠完全代替人耳測試純音。

四：直流偏置測試功能檢查產品音圈位不同位置狀態下對性能的影響

可以在給揚聲器測試信時候附加一個正向或則負向的DC ofiset，讓揚聲器工作時音圈位置正偏或則負偏。通過電壓回采測試實際揚聲器兩端偏置電壓，并通過激光實時測試揚聲器音膜的偏置位移。并測試出在各個不同偏置位移下的聲學性能指標，包括（FR、THDHOHD、純音）等變化趨勢。