熱發射顯微鏡(Thermal EMMI)系統是通過接收故障點產生的熱輻射異常來定位故障點位置，當被測物體高于絕對零度時，會不斷向外輻射電磁波，系統利用紅外探測器和光學成像物鏡接受被測目標的紅外輻射能量分布圖形，并將其反映到紅外探測器的光敏元件上，從而獲得紅外熱像圖。這種熱像圖與物體表面的熱分布場相對應，從而實現對故障點的精確定位。

　　我們自主研發的Thermal EMMI系統，集成了多項高端技術組件，包括高靈敏度的紅外相機、多種倍率可選的顯微鏡鏡頭以及精確的高低壓源表等。這些組件共同賦予了該系統超凡的靈敏度、高精度的溫度測量能力以及無損故障定位的特性。在半導體芯片、先進封裝技術、功率電子器件以及印刷電路板(PCB)等領域的失效分析過程中，Therma EMMI系統發揮著舉足輕重的作用，它不僅能夠快速準確地定位故障點，還能有效提升產品質量和可靠性，是電子工業中不可或缺的精密檢測工具。