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    半導體測試方案
    萬博| 2023-02-28|返回列表

      泰克及旗下吉時利品牌,提供從晶元到系統的專業半導體測試方案。包括半導體材料測試平臺、半導體工藝測試平臺、芯片設計測試平臺、芯片驗證測試平臺等。

      半導體材料測試平臺包括:

      針對晶元級半導體材料或半導體器件,泰克提供半導體參數分析儀(4200A-SCS),用于測試分離器件、材料的三大特性:1、直流特性,如IV曲線、IT曲線、VT曲線、RT曲線等; 2、電容電壓特性CV曲線(CVU);3脈沖特性測試(PMU),支持超高速脈沖測試。支持以上特性的多通道同步測試。

      針對高功率半導體材料或半導體器件,泰克提供高功率晶體管參數曲線圖示儀(2600B-PCT),或稱晶體管曲線追蹤儀,支持高壓、高流等條件下直流特性IV曲線、電容電壓特性CV曲線測試。

      半導體工藝測試平臺包括:

      針對大規模測試,如晶元上多點測試,復雜系統的自動化測試,泰克提供自動化半導體參數測試系統(S500/S530/S540),支持各類晶元Wafer和MEMS的自動化、半自動化參數測試。廣泛用于晶元的失效分析測試(FA),質量控制測試(QA),可靠性分析測試(RA)。其中S540支持高壓功率半導體自動化參數測試。

      芯片設計測試平臺包括:

      針對高速串行芯片設計,泰克提供完整的發送端測試解決方案,配備高帶寬實時示波器、各種探頭、一致性測試夾具、一致性測試軟件等,支持的標準覆蓋各類常用標準,包括:PCIE/DDR/USB/ETH等等。

      芯片驗證測試平臺包括:

      針對高速串行芯片設計,泰克提供完整的接收端容限測試解決方案,配備高速誤碼率分析儀,及一致性測試夾具、一致性測試軟件等,支持的標準覆蓋各類常用標準。

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