泰克及旗下吉時利品牌，提供從晶元到系統的專業半導體測試方案。包括半導體材料測試平臺、半導體工藝測試平臺、芯片設計測試平臺、芯片驗證測試平臺等。

　　半導體材料測試平臺包括：

　　針對晶元級半導體材料或半導體器件，泰克提供半導體參數分析儀（4200A-SCS），用于測試分離器件、材料的三大特性：1、直流特性，如IV曲線、IT曲線、VT曲線、RT曲線等； 2、電容電壓特性CV曲線（CVU）；3脈沖特性測試(PMU)，支持超高速脈沖測試。支持以上特性的多通道同步測試。

　　針對高功率半導體材料或半導體器件，泰克提供高功率晶體管參數曲線圖示儀（2600B-PCT），或稱晶體管曲線追蹤儀，支持高壓、高流等條件下直流特性IV曲線、電容電壓特性CV曲線測試。

　　半導體工藝測試平臺包括：

　　針對大規模測試，如晶元上多點測試，復雜系統的自動化測試，泰克提供自動化半導體參數測試系統（S500/S530/S540），支持各類晶元Wafer和MEMS的自動化、半自動化參數測試。廣泛用于晶元的失效分析測試（FA）,質量控制測試（QA），可靠性分析測試（RA）。其中S540支持高壓功率半導體自動化參數測試。

　　芯片設計測試平臺包括：

　　針對高速串行芯片設計，泰克提供完整的發送端測試解決方案，配備高帶寬實時示波器、各種探頭、一致性測試夾具、一致性測試軟件等，支持的標準覆蓋各類常用標準，包括：PCIE/DDR/USB/ETH等等。

　　芯片驗證測試平臺包括：

　　針對高速串行芯片設計，泰克提供完整的接收端容限測試解決方案，配備高速誤碼率分析儀，及一致性測試夾具、一致性測試軟件等，支持的標準覆蓋各類常用標準。